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E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

E3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF),专门用于镀层厚度检测;其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告...
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产品介绍

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

应用领域:
● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试精准度。

● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型。
产品特点:

1.1全自动三维样品台

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

 

1.2 X射线向下照射式,激光对焦

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

 

1.3小光斑设计

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

 

1.4测试时间灵活性调节

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

 

1.5多规格样品仓

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器

 

1.6 X-Ray探测器

HeLeeX E3-3D采用美国原装全进口一体式X-123半导体X射线探测器,其先进的半导体制冷技术,高峰背比(信噪比),超高计数率,优越的分辨率和稳定性以及高集成化等特点,超越其他品牌或同品牌的组装探测器

E3-3D:三维定位镀层测厚仪器